การเตรียมตัวอย่างเบื้องต้นสำหรับงานวิเคราะห์สมบัติทางพื้นผิวเป็นพื้นฐานสำคัญในการเตรียมตัวอย่างเพื่อให้ได้คุณภาพของผิวงานที่ดี ก่อนนำไปวิเคราะห์สมบัติทางพื้นผิวของวัสดุด้วยเครื่อง Scanning electron microscope (SEM), Optical microscope (OM) เป็นต้น
เพื่อให้ผู้เข้าอบรมมีความเข้าใจในทฤษฎีเบื้องต้นเกี่ยวกับเครื่องมือที่ใช้ในการเตรียมตัวอย่างรวมถึงเทคนิคการเตรียมตัวอย่างเบื้องต้น โดยสามารถนำความรู้ที่ได้ไปประยุกต์ใช้กับงานได้อย่างเหมาะสม
หัวข้อ |
รายละเอียดหลักสูตร |
จำนวนชั่วโมง |
|
|
|
ทฤษฎี |
ปฏิบัติ |
1. |
ความรู้ความเข้าใจเบื้องต้นเกี่ยวกับการเตรียมตัวอย่างสำหรับงานวิเคราะห์ทางพื้นผิว
|
3.0 |
|
2. |
ความรู้ความเข้าใจเบื้องต้นเกี่ยวกับเครื่องตรียมตัวอย่างสำหรับงานวิเคราะห์ทางพื้นผิว
|
3.0 |
|
3. |
เทคนิคปฏิบัติการ
|
|
10.0 |
4. |
เทคนิคปฏิบัติการ
|
|
2.0 |
|
รวมทฤษฎี-ปฏิบัติ |
6.0 |
12.0 |
|
Man-Hours |
18.0 |
-